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- 水江,千帆子 (ミズエ,チホコ) https://www.lib.hokudai.ac.jp/dissertations/list/?FF=4&LANG=ja&ACCN=2011030218
| 論文名 | MOS 型デバイス応用のための窒化ガリウム系へテロ構造界面の評価と制御 |
| 論文名(欧文) | Characterization and control of GaN-based heterostructure interfaces for MOS device applications |
| 学位授与年度 | 2010 |
| 学位種別／学位種類 | 1（課程博士） / 036（博士(工学)） |
| 報告番号 | 9979 |
| 学位授与年月日 | 2011-03-24 |
| 主査／副査 | 橋詰,保 / 本久,順一 佐藤,威友 |
| 所在 | |
| 配架番号 | |
| 備考 | |
| 内容の要旨と審査の要旨 | 9979_mizue.pdf |