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- 井村,隆 (イムラ,タカシ) https://www.lib.hokudai.ac.jp/dissertations/list/?FF=4&LANG=ja&ACCN=1201602544
| 論文名 | 両面X線照射法による平板及び中空円筒の残留応力測定理論 |
| 論文名(欧文) | |
| 学位授与年度 | 1983 |
| 学位種別／学位種類 | 2（論文博士） / 016（工学博士） |
| 報告番号 | 2544 |
| 学位授与年月日 | 1983-12-24 |
| 主査／副査 | 土肥,修 / 秦,謹一 佐藤,進一 |
| 所在 | |
| 配架番号 | |
| 備考 |