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1 件見つかりました。
- 石川,靖彦 (イシカワ,ヤスヒコ) https://www.lib.hokudai.ac.jp/dissertations/list/?FF=4&LANG=ja&ACCN=1103604423
論文名 | 走査トンネル顕微鏡およびX線光電子分光法によるIII-V族化合物半導体表面のその場観察 |
論文名(欧文) | In-Situ Characterization of III-V Compound Semiconductor Surfaces by Scanning Tunneling Microscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy |
学位授与年度 | 1997 |
学位種別/学位種類 | 1(課程博士) / 036(博士(工学)) |
報告番号 | 4423 |
学位授与年月日 | 1998-03-25 |
主査/副査 | 福井,孝志 / 雨宮,好仁 酒井,洋輔 長谷川,英機 |
所在 | |
配架番号 | |
備考 | |
内容の要旨と審査の要旨 | 4423_ishikawa.pdf |