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- 柴山,環樹 (シバヤマ,タマキ) https://www.lib.hokudai.ac.jp/dissertations/list/?FF=4&LANG=ja&ACCN=1103603039
| 論文名 | 高分解能電子顕微鏡法による半導体界面の微細構造解析に関する研究 |
| 論文名(欧文) | |
| 学位授与年度 | 1991 |
| 学位種別／学位種類 | 1（課程博士） / 036（博士(工学)） |
| 報告番号 | 3039 |
| 学位授与年月日 | 1992-03-25 |
| 主査／副査 | 高橋,平七郎 / 石井,邦宜 長谷川,英機 武笠,幸一 |
| 所在 | |
| 配架番号 | |
| 備考 | |
| 内容の要旨と審査の要旨 | 3039_shibayama.pdf |